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研究方向: 电子元器件可靠性测试、电磁兼容检测、通信设备性能评估、芯片级检测技术研究 任职基本要求: 1. 35周岁及以下,已取得或即将取得博士学位,全职进站开展研究; 2. 熟悉元器件可靠性、芯片测试、射频微波测试、电磁兼容测试任一方向,具备扎实理论与试验能力; 3. 具备独立科研能力,能够独立完成试验设计、数据分析、论文及报告撰写; 4. 有检测技术、失效分析、标准研制、相关横向/纵向项目经历者优先。 博士后出站成果要求: 进站期间以第一作者发表高水平SCI/EI论文2篇及以上;申请发明专利1-2项;参与省部级及以上科研项目或标准制修订1项及以上,形成专项技术研究报告。
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